Miernik do nieniszczących pomiarów grubości powłok na stali (F) i metalach nieżelaznych (N) do 2000 μm

Mały, solidny miernik grubości powłoki LAYERCHECK 750 USB służy do wykonywania szybkich, dokładnych i nieniszczących pomiarów grubości powłok na podłożach metalowych. Typowe obszary zastosowania obejmują przemysłową ochronę antykorozyjną, rzeczoznawców, galwanizernie i lakiernie, przemysł chemiczny, motoryzacyjny, okrętowy, lotniczy, konstrukcję aparatury i maszyn. W zależności od typu urządzenia i zastosowanej sondy, mierniki grubości powłoki na baterie działają zgodnie z metodą magnetyczno-indukcyjną (F) lub dodatkowo (dla sondy kombinowanej FN) zgodnie z metodą prądów wirowych.

Miernik LAYERCHECK 750 USB-FN wraz z uniwersalną sondą do pomiarów grubości powłok na stali (zakres pomiarowy: 0 – 2000 µm) i metalach nieżelaznych (zakres pomiarowy: 0 – 2000 µm).

• możliwość robienia statystyki w urządzeniu,
• dwupunktowa kalibracja,
• odczyty w mikronach lub milach – do wyboru,
• podświetlenie wyświetlacza,
• interfejs USB,
• 3 folie kalibracyjne,
• 2 referencyjne płytki zerowe (stal/aluminium)
• 3 baterie AAA,
• miękki pokrowiec,
• oprogramowanie Msoft7000 – wersja podstawowa.

Zgodny z normami: DIN, ISO, ASTM, BS.